SNJ54BCT8374AFK
SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-T
- ПРОИЗВОДИТЕЛЬ
- Texas Instruments
- КАТЕГОРИЯ ТОВАРА
- Специализированные логические микросхемы
- Корпус
- 28-CLCC
- Склад
- 1,154 шт.
- Наличие
- Текущее количество требует подтверждения.
Характеристики товара
| ПРОИЗВОДИТЕЛЬ | Texas Instruments |
|---|---|
| КАТЕГОРИЯ ТОВАРА | Специализированные логические микросхемы |
| Logic Type | Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops |
| Mounting Type | Surface Mount |
| Number of Bits | 8 |
| Operating Temperature | -55°C ~ 125°C |
| Package | Tube |
| Product status | Active |
| Series | 54BCT |
| Supplier Device Package | 28-LCCC (11.43x11.43) |
| Supply Voltage | 4.5V ~ 5.5V |
| Техническая документация | Открыть техническую документацию PDF |
Сводка по закупке
Основная информация о поставке и закупке для SNJ54BCT8374AFK.
Почему выбирают Antrex Electronics?
Независимая дистрибьюторская поддержка для проверенных закупок, инспекции и международных требований к поставкам.
Поддержка независимого дистрибьютора
Поиск дефицитных, снятых с производства и труднодоступных компонентов для производственных и закупочных задач.
Проверка прослеживаемости
До подтверждения заказа можно проверить этикетку, партию, дату производства и доступную документацию по цепочке поставок.
Инспекция и тестирование
При необходимости можно организовать визуальную проверку, рентген и тестирование третьей стороной.
Глобальная поддержка закупок
Поддержка международных закупок для OEM, EMS и дистрибьюторов — от отдельных компонентов до BOM-проектов.
Сертификация и поддержка проверки
Контроль качества, проверка прослеживаемости и инспекционная поддержка для закупок электронных компонентов.
Другие варианты закупки
Продолжите поиск по производителю, категории продукции или требованиям к закупке.
